Ocena parametru przetwornika A/D

Testowanie ADC jest wän- czynno-ci-, która odgrywa g-ówn- rol- w decydowaniu o dok-adno-ci systemu. Wiele aplikacji obserwuje pomiary przy u-yciu ADC. Takie zastosowanie wi--e si- z wysok- dok-adno-ci- i rozdzielczo-ci-, a wi-c jest zapewnione przez zakres dynamiczny sygnäu. Warto-ci parametrów ADC mog- by- w przysz-o-ci poprawione poprzez zwi-kszenie liczby próbek, cz-stotliwo-ci i przesterowania. Algorytm testowy mo-e by- zastosowany do analizy eksperymentalnej ADC w czasie rzeczywistym. Zmodyfikowany algorytm g-sto-ci kodu, który zmniejsza wp-yw b--dów na dane histogramu. Algorytm ten mo-e osi-gn-- ten sam poziom dok-adno-ci co konwencjonalny algorytm g-sto-ci kodu, ale przy u-yciu znacznie mniejszej liczby próbek, co oznacza krótszy czas testu i ni-sze koszty testu. Nowa metoda jest bardzo wydajna i mo-e by- stosowana w celu umo-liwienia testowania ADC o wysokiej rozdzielczo-ci z lepszym pokryciem oraz zmniejszenia czasu i kosztów testowania ADC o -redniej rozdzielczo-ci. Ta ksi--ka zostäa przet-umaczona przy u-yciu sztucznej inteligencji.

Dr. MANISH JAIN Associate Professor, EEE Department, Mandsaur University, Mandsaur (M.P.) obtained PhD in 2015 in ECE. He has published more than 30 papers in International journal and listed in IEEE conference Proceedings. Under his guidance Student projects have been sanctioned for Financial Assistance by Department of Science & Technology (DST)