Indeksowanie wzorów dyfrakcyjnych

W artykule przedstawiono model przeznaczony do analizy obrazów zawieraj-cych wzorce dyfrakcyjne, a tak-e oprogramowanie opracowane do wykonywania pomiarów k-tów i odleg-o-ci pomi-dzy ró-nymi punktami charakterystycznymi (sygnäami) zawartymi we wzorcach badanych przez badaczy Centrum Badä Materiäów Zaawansowanych (CIMAV). G-ównym powodem opracowania tego systemu jest fakt, -e badacze musz- r-cznie wykonywä proces analizy i indeksowania wzorców dyfrakcyjnych, zadanie, które staje si- -mudne i podatne na b--dy ludzkie. Dlatego te- narz-dzie zostäo zaprojektowane tak, aby zautomatyzowä i pomóc w indeksowaniu wzorców w obrazach, u-atwiaj-c proces wykrywania sygnäu, a tym samym osi-gni-cie dok-adniejszego pomiaru pomi-dzy elementami analizowanego wzorca dyfrakcyjnego.

Tania Campos obtuvo la Maestría Sistemas Computacionales en el área de Inteligencia Artificial en el TecNM campus Chihuahua II en 2016. Es coautora del artículo Method for Signals Detection in Single Crystal Diffraction Patterns through a Diffraction Pattern Indexing Software publicado en el Journal of Mechanics Engineering and Automation en 2015.